2010年10月31日 星期日
2010年10月28日 星期四
20101027實驗室日誌
check the pumping after exchanging the new fiber：
P=3.5E-4 mbar
and testing AFM mode in the cryostat.
result：
P=3.5E-4 mbar
and testing AFM mode in the cryostat.
result：
result：
更換fiber之後，掃描出的表面形貌圖較為清楚，雜訊的情況也較小。另外stick於實驗中發現有晃動的情況，在check之後將stick鎖緊，掃描情況較為穩定可能和更換新的fiber與鎖緊後不再晃動的stick有些微關係。
20101026實驗室日誌
exchange the new fiber and testing AFM mode：
the broken fiber：
shipped from attocube (Germany)
clean the fiber head with the "fiber cleaner"
the broken fiber：
shipped from attocube (Germany)
clean the fiber head with the "fiber cleaner"
更換光纖並測試laser光譜曲線是否工作正常。
測試結果：經由雷射發出的紅外光透過更換後的光纖，從探針懸臂反應獲得的譜線顯示正常。
20101012-20101014實驗室日誌
10/12
testing the new AFM head
10/13-10/14
check the pumping：
find some problems with pumping, check and clean
after clean, p=5.0E-5 mbar
testing the new AFM head
10/13-10/14
check the pumping：
find some problems with pumping, check and clean
after clean, p=5.0E-5 mbar
2010年10月5日 星期二
2010九月份 Monthly Report
中央研究院應用科學中心核心設施使用報告
核心設施名稱：低溫高磁場掃瞄探針顯微儀
（Low-temperature, high magnetic scanning probe microscope）
核心設施位置：國立交通大學田家炳光電大樓共同實驗室101
報告期間：2010/09/01-2010/09/30
管理者：張仕欣
報告內容：
本月主要測試設備的三種掃瞄模式：包含STM、AFM以及音叉式AFM。
儀器日誌：
9/6：
更換光纖並測試AFM是否工作正常。
測試結果： 經由雷射發出的紅外光透過更換後的光纖，從探針懸臂反應獲得的譜線顯示正常（下圖）。
9/9-9/10：
連續兩天進行STM的測試： 測試結果： 在一般環境中由於雜訊較大，因此掃描所得到的圖片較不理想。放入低溫恆溫器中可以減少一些環境的震動影響，但是掃描時的雜訊還是依然存在。
9/13-9/14：
STM & 音叉式AFM測試 STM測試：
1. Using STM standard sample (graphite)
2. Change the STM head and mount the tungsten tip
3. Connect the STM preamp (femto DLPCA)
4. Check connection cables for bias and current
5. Approach and scanning
音叉式AFM測試：
1. Mount the tuning fork on the AFM head
2. Glue the AFM tip on the tuning fork
3. Check the connection cables
測試結果：
STM正常；音叉式AFM的部分，軟體的參數設定還在測試中，尚未開始掃描。
9/15：
1） 9/14(二)發現一軸positioner不能移動的問題，經與原廠email回復後，建議用棉花棒對positioner加以施加推力，輔助其移動，於今天早上測試結果正常。
2） 劉安鈞STM操作資格考─通過
3） STM測試： 測試結果：經由鋁箔屏蔽，可以減少外在環境對STM的影響，雜訊也減少許多。
9/16：
測試音叉式AFM：
1. Exchange scan tip
2. Confirm the connection cables
3. DAC：2V
4. Amplitude：10-40 mV 測試結果：
9/21：
製作探針（W-tip）：
鎢線直徑1：0.03 mm，電流：1 A，電壓：2 V
結果：連續且短暫碰觸正負極，使其反應進而侵蝕針尖，時間約10秒。
鎢針直徑2：0.5 mm，電流：3 A，電壓：5 V 結果：長時間反應侵蝕針尖，時間約5~10分鐘。
針尖放大圖：
9/23-9/24：
音叉式AFM測試：
1. Using the standard AFM sample
2. Exchange to the tuning fork AFM head
3. Check the connection cables
4. Setup the parameters
5. take the insert into the cryostat and scan again, P=4.3E-5 mbar
6. Approach and scanning
測試結果：
9/27：
音叉式AFM測試 (使用新探針)：
探針放大圖：
掃瞄參數： Scan Range: 35×35 μm2，Scan Speed: 4000 nm/s，Regulator P:0.2 ，Regulator I: 20 Hz
測試結果：
核心設施名稱：低溫高磁場掃瞄探針顯微儀
（Low-temperature, high magnetic scanning probe microscope）
核心設施位置：國立交通大學田家炳光電大樓共同實驗室101
報告期間：2010/09/01-2010/09/30
管理者：張仕欣
報告內容：
本月主要測試設備的三種掃瞄模式：包含STM、AFM以及音叉式AFM。
儀器日誌：
9/6：
更換光纖並測試AFM是否工作正常。
測試結果： 經由雷射發出的紅外光透過更換後的光纖，從探針懸臂反應獲得的譜線顯示正常（下圖）。
9/9-9/10：
連續兩天進行STM的測試： 測試結果： 在一般環境中由於雜訊較大，因此掃描所得到的圖片較不理想。放入低溫恆溫器中可以減少一些環境的震動影響，但是掃描時的雜訊還是依然存在。
9/13-9/14：
STM & 音叉式AFM測試 STM測試：
1. Using STM standard sample (graphite)
2. Change the STM head and mount the tungsten tip
3. Connect the STM preamp (femto DLPCA)
4. Check connection cables for bias and current
5. Approach and scanning
音叉式AFM測試：
1. Mount the tuning fork on the AFM head
2. Glue the AFM tip on the tuning fork
3. Check the connection cables
測試結果：
STM正常；音叉式AFM的部分，軟體的參數設定還在測試中，尚未開始掃描。
9/15：
1） 9/14(二)發現一軸positioner不能移動的問題，經與原廠email回復後，建議用棉花棒對positioner加以施加推力，輔助其移動，於今天早上測試結果正常。
2） 劉安鈞STM操作資格考─通過
3） STM測試： 測試結果：經由鋁箔屏蔽，可以減少外在環境對STM的影響，雜訊也減少許多。
9/16：
測試音叉式AFM：
1. Exchange scan tip
2. Confirm the connection cables
3. DAC：2V
4. Amplitude：10-40 mV 測試結果：
9/21：
製作探針（W-tip）：
鎢線直徑1：0.03 mm，電流：1 A，電壓：2 V
結果：連續且短暫碰觸正負極，使其反應進而侵蝕針尖，時間約10秒。
鎢針直徑2：0.5 mm，電流：3 A，電壓：5 V 結果：長時間反應侵蝕針尖，時間約5~10分鐘。
針尖放大圖：
9/23-9/24：
音叉式AFM測試：
1. Using the standard AFM sample
2. Exchange to the tuning fork AFM head
3. Check the connection cables
4. Setup the parameters
5. take the insert into the cryostat and scan again, P=4.3E-5 mbar
6. Approach and scanning
測試結果：
9/27：
音叉式AFM測試 (使用新探針)：
探針放大圖：
掃瞄參數： Scan Range: 35×35 μm2，Scan Speed: 4000 nm/s，Regulator P:0.2 ，Regulator I: 20 Hz
測試結果：
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