歲修

系統已經完成歲修，歡迎預約。

系統歲修

本系統歲修時間：十二月 ，為期一個月。

AFM measurement

AFM measurement
Time: 18-19 OCT. 10:00-17:00
Scan mode: contacting AFM
Also demonstrate how to put the insert into the cryostat.

current overload problem

Current overload problem:

How to solve: using Al foil to well cover the current BNC connector.

AFM measurement

AFM measurement
Time: 15-16 OCT. 10:00-17:00
Scan mode: contacting AFM

Problem: the current always shows overload !

測試結果

將過昨天與今天兩天的測試，AFM系統工作正常，可以重新開放預約。

測試試片：AFM標準試片
測試時間：03/10/2012-04/10/2012
掃描範圍：40 x 40 micrometer
掃描模式：Contact AFM
掃瞄結果：



附註：經過超過半天的掃瞄，掃描品質仍然能夠維持。掃描期間也不太受外界干擾。不過即使經過長時間的掃瞄，壓電陶瓷的creep問題仍然嚴重（可以從上面兩張比較圖可以得知）。

維修完成

由於中研院物理所莊天明博士與機械加工廠的全力配合，加工工件已經完成。待系統完成測試確認後，即可開放預約。