測試結果

將過昨天與今天兩天的測試，AFM系統工作正常，可以重新開放預約。

測試試片：AFM標準試片
測試時間：03/10/2012-04/10/2012
掃描範圍：40 x 40 micrometer
掃描模式：Contact AFM
掃瞄結果：



附註：經過超過半天的掃瞄，掃描品質仍然能夠維持。掃描期間也不太受外界干擾。不過即使經過長時間的掃瞄，壓電陶瓷的creep問題仍然嚴重（可以從上面兩張比較圖可以得知）。