20100927實驗室日誌

tuning fork AFM testing (new tip)：
1. exchange a new tip
2. check the cables
3. approach & scanning

Tip：

scanning result：
Scan Range X: 3.5e+04 nm
Scan Range Y: 3.5e+04 nm
Scan Speed: 4000 nm/s
Regulator P: 0.2
Regulator I: 20 Hz

20100923-20100924實驗室日誌

tuning fork AFM testing：

1. exchange the standard AFM sample
2. exchange the tuning fork AFM head
3. check the connection cables
4. setup the parameters
5. approach and scanning

take the insert into the cryostat and scanning again, P=4.3E-5 mbar

testing result：

20100921實驗室日誌

Ttungsten Tip：

Diameter：0.03mm

電流：1A

電壓：2V

* 連續且短暫碰觸正負極使其反應進而侵蝕tip，時間約10秒

Diameter：0.5mm

電流：3A
電壓：5V
* 長時間反應侵蝕tip，時間約5~10分鐘



result：

20100916實驗室日誌

check the noise problem of tuning fork AFM mode：
1. exchange the AFM head with the tip
2. confirm the connection cables of system and preamp (FEMTO VA)
3. DAC：2V
4. amplitude：10mV ~ 40mV 

result：

20100915實驗室日誌

於9/14(二)發現positioner不能移動的問題，經由原廠mail回復後，建議用Q-tip 對positioner加以施加推力，輔助其移動，於今天早上測試結果正常。

STM Testing & Qualify：
1. change a new STM tip
2. check the cables of bias and current
3. approach and scanning

result：經由鋁箔之屏蔽效應，可以減少外在環境對STM system的影響，雜訊也減少許多。

20100913-20100914實驗室日誌

STM & Tuning Fork AFM Testing

STM Testing：
1. change the STM standard sample (graphite)
2. change the STM head and mount the tungsten tip
3. connect the STM preamp (femto DLPCA)
4. check the connection cables of bias (to DAC out) and current (to ADC in)
5. approach and scanning

Tuning Fork AFM Testing：
1. mount the tuning fork on the AFM head
2. mount the AFM tip on the tuning fork
3. check the connection cables
Tuning Fork AFM 的部分，軟體的參數設定還在測試中，尚未開始掃描。

20100909-20100910實驗室日誌

連續兩天進行STM的測試：
1. change the STM standard sample
2. check the connections of bias and current
3. setup the parameter of system
4. start to approach
5. scanning

and testing in the cryostat：
1. start pumping over night - P=6.8E-5 mbar
2. take the insert into the cryostat
3. check the connections of bias and current
4. setup the parameter of system
5. approach and scanning

testing result：
    在一般環境中由於雜訊較大，因此掃描所得到的圖片較不理想。放入cryostat中可以減少一些環境的震動影響，但是掃描時的雜訊還是依然存在。

20100906實驗室日誌

repair the fiber and testing AFM

測試結果：
經由laser pen發出的紅外光透過更換後的fiber，
從探針懸臂反應獲得的spectroscopy 曲線顯示正常。

Online Scheduling System for the RCAS

Dear all：
目前中心設備儀器 Attocube LT-STM/AFM 已排入應科中心無塵室管理，儀器使用時間將採取預先排定的方式，目前每星期將開放３天供中心人員與對外使用。

中心人員與對外開放使用時間：星期一、星期二、星期三

如有需要使用Attocube LT-STM/AFM，麻煩各位老師及同仁事先排定告知時間，謝謝

http://scheduler.rcas.sinica.edu.tw/

http://scheduler.rcas.sinica.edu.tw/rorescalendar.php?view=3&machid=sc14c79ad6g83d95

2010八月份 Monthly Report

中央研究院應用科學中心核心設施使用報告

核心設施名稱：低溫高磁場掃瞄探針顯微儀
（Low-temperature, high magnetic scanning probe microscope）
核心設施位置：國立交通大學田家炳光電大樓共同實驗室101
報告期間：2010/08/01-2010/08/31
管理者：張仕欣

報告內容：

先前六月送往德國attocube原廠進行維修的關鍵零件（掃瞄模組scanner），以及部分電線，已於八月25號送回新竹實驗室。經過測試，工作正常。今後可以開始提供服務。

儀器日誌：

08/12 取出低溫溫度計校正曲線，並交予原廠作校正之用。方法如下：
Temperature Controller Model : X56625 download the calibration file to computer :
1. Connect the controller with the computer via RS232
2. Use the CD delivered together with the temperature controller and open the program "utility.exe"
3. Press "connect".
4. Open the menu "operations" -> "sensor curve" -> "upload"

校正曲線：

08/30將維修過後的positioner與scanner零件組裝完成並進行AFM測試：

掃瞄模式：接觸式AFM
試片：標準試片（由李連忠老師實驗室提供）。

組裝後之系統：

























接觸式AFM影像圖：






















結果：工作正常。

08/31 測試在真空環境與cryostat中，掃瞄是否正常：
1. insert 抽真空，P=6.3*E-5 mbar (正常)
2. 將insert 放入cryostat 並再次進行AFM 測試，由於偵測到不穩定的訊號來源，所以進針的情況不是很理想。
3. 替換新的AFM 探針並檢查預壓彈簧，再次放進cryostat 內進行AFM 測試，進針的情況較為穩定良好，不過依然有些微不穩定的訊號。


另外，在奈米生醫組薛老師的幫忙下，本設備的線上預約系統已經建製完成（http://scheduler.rcas.sinica.edu.tw/）。請研究人員多多利用。

20100831實驗室日誌

1. insert 抽真空，P=6.3*E-5 mbar
2. 將insert 放入cryostat 並再次進行AFM 測試，由於偵測到不穩定的訊號來源，所以approach 的情況不是很理想。
3. 替換新的AFM probe並檢查spring，再次放進cryostat 內進行AFM 測試，approach 的情況較為穩定良好，不過依然有些微不穩定的訊號。