2010八月份 Monthly Report

中央研究院應用科學中心核心設施使用報告

核心設施名稱：低溫高磁場掃瞄探針顯微儀
（Low-temperature, high magnetic scanning probe microscope）
核心設施位置：國立交通大學田家炳光電大樓共同實驗室101
報告期間：2010/08/01-2010/08/31
管理者：張仕欣

報告內容：

先前六月送往德國attocube原廠進行維修的關鍵零件（掃瞄模組scanner），以及部分電線，已於八月25號送回新竹實驗室。經過測試，工作正常。今後可以開始提供服務。

儀器日誌：

08/12 取出低溫溫度計校正曲線，並交予原廠作校正之用。方法如下：
Temperature Controller Model : X56625 download the calibration file to computer :
1. Connect the controller with the computer via RS232
2. Use the CD delivered together with the temperature controller and open the program "utility.exe"
3. Press "connect".
4. Open the menu "operations" -> "sensor curve" -> "upload"

校正曲線：

08/30將維修過後的positioner與scanner零件組裝完成並進行AFM測試：

掃瞄模式：接觸式AFM
試片：標準試片（由李連忠老師實驗室提供）。

組裝後之系統：

























接觸式AFM影像圖：






















結果：工作正常。

08/31 測試在真空環境與cryostat中，掃瞄是否正常：
1. insert 抽真空，P=6.3*E-5 mbar (正常)
2. 將insert 放入cryostat 並再次進行AFM 測試，由於偵測到不穩定的訊號來源，所以進針的情況不是很理想。
3. 替換新的AFM 探針並檢查預壓彈簧，再次放進cryostat 內進行AFM 測試，進針的情況較為穩定良好，不過依然有些微不穩定的訊號。


另外，在奈米生醫組薛老師的幫忙下，本設備的線上預約系統已經建製完成（http://scheduler.rcas.sinica.edu.tw/）。請研究人員多多利用。