MBE-STM

先前與林時彥博士實驗室所提的奈米計畫--將STM結合MBE系統，上星期首次將STM掃瞄頭與MBE系統結合（如下圖）。




結合後，MBE原始的試片仍可順利傳送至MBE Chamber作蒸鍍。
我們利用石墨（HOPG）標準試片，來測試STM的表現，結果如下：

a 石墨原子影像圖（該圖為原始圖（raw data）），b)為a圖的傅利葉轉換，可以清楚看到六重對稱的點，c)經FFT過濾後，清楚的HOPG原子影像圖。附註：在取圖時，turbo與rotary pumps仍再運作。

結果：該STM的設計確實是非常的穩固，並不太受外界環境的影響。不過由於MBE系統並沒有避震措施，且支撐架結構較鬆散，雖然可以得到原子影像，但仍然可以看到低頻的雜訊（圖a）。如果在取圖時，能夠讓沒有震動的ion pump接管，一定可以取到更穩定沒有雜訊的圖。