2011年1月28日 星期五

20110111實驗室日誌

testing AFM mod
低頻雜訊: 2V
sample: standard sample

Scan Range X: 1002 nm
Scan Range Y: 1002 nm
Scan Rotation: 90 deg
Scan Speed: 50 nm/s
Regulator P: 0.003
Regulator I: 12 Hz
Regulator Setpoint: 2.5










沒有留言:

張貼留言