2011年3月31日 星期四

20110325實驗室日誌

training STM mode - Mai
*掃出標準試片graphite的step,但是周圍環境影響,所以雜訊較大

parameter :
Scan Range X: 1002 nm
Scan Range Y: 1002 nm
Scan Rotation: 0 deg
Sample Time: 2.564e+04 us
Scan Speed: 150 nm/s
Slope Compensation: on
Slope Compensation X: 7 %
Slope Compensation Y: 0 %
DAC 1: 0.3 V
Positioning Speed X: 1000 nm/s
Positioning Speed Y: 1000 nm/s


沒有留言:

張貼留言