RCAS-SPM實驗室日誌: 11月 2010

2010年11月30日星期二

20101125實驗室日誌

AFM mode (scanning in the cryostat)
P= 2.2E-4 mbar

Parameters：
sample：GaSb
Scan Range X: 1002 nm
Scan Range Y: 1002 nm
Scan Speed: 80 nm/s

* Result：可以看到sample有一些quantum dot or quantum ring的結構

Parameters：

Scan Range X: 497.8 nm
Scan Range Y: 497.8 nm
Scan Speed: 55 nm/s
Regulator P: 0.000225
Regulator I: 12 Hz
Regulator Setpoint: 2.5
*Result：掃描500nm，可清楚看到sample上的結構，依然有些微雜訊。

20101124實驗室日誌

* change the GaSb sample and scanning with the AFM mode：
parameters：
Scan Range X: 1002 nm
Scan Range Y: 1002 nm
Scan Speed: 100 nm/s Regulator P: 0.003
Regulator I: 12 Hz
Regulator Setpoint: 2.5

* Result：外在環境震動與雜訊，掃描圖形並不理想。

* scanning with TF-AFM (in the cryostat)
parameters：
Scan Range X: 3.5e+04 nm
Scan Range Y: 3.5e+04 nm
Scan Speed: 4004 nm/s
Regulator P: 0.3
Regulator I: 8 Hz
Excitation Amplitude: 0.04 V
Excitation Frequency: 32.684533 kHz

* change the AFM scanning head and standard sample：
Scan Range X: 3.5e+04 nm
Scan Range Y: 3.5e+04 nm
Scan Speed: 4000 nm/s
Regulator P: 0.003
Regulator I: 12 Hz
Regulator Setpoint: 2.5

20101122實驗室日誌

tuning fork AFM：
sample：standard sample
tip：0.03mm (5V; KOH液面下維持3~5秒即停止etching)

parameters：
Scan Range X: 3.5e+04 nm
Scan Range Y: 3.5e+04 nm
Scan Speed: 4000 nm/s
Excitation Amplitude: 0.01953 V
Excitation Frequency: 32.671167 kHz
P: 300m
I: 5Hz
* result：AFM tip針尖的情況可能導致掃描圖形並不理想。

20101119實驗室日誌

Check Pumping：

pumping的情況不理想，逐步check並更換新的o-ring
* 將bellow管分離，check 十字管金屬的真空狀況，初抽3分鐘之後的真空值並不理想，因此更換新的o-ring後再次抽真空，P=2.3E-4 mbar 屬於正常情況。

* 將insert分離，check bellow管內的真空狀況，初抽約5分鐘內真空值可達到 P= 1.8E-4 mbar，之後持續至20分鐘，真空值可達到4.2E-5 mbar，屬於正常情況。

* with insert
初抽 5 mins，P=1.6E-2 mbar ~ 5.6E-3 mbar，真空狀況屬於正常範圍，持續1個半小時的抽氣，P= 3.6E-4 mbar。

20101118實驗室日誌

* experiment for tuning fork AFM
parameters：
sample: GaSb
Scan Range X: 1002 nm
Scan Range Y: 1002 nm
Scan Speed: 100 nm/s
Regulator P: 0.08

Regulator I: 0.3 Hz
Amplitude: 40mV
Freg: 32.678632 kHz

Result: 雜訊較多，掃描所得之表面形貌圖並不理想