2010年11月30日 星期二

20101118實驗室日誌

* experiment for tuning fork AFM
parameters:
sample: GaSb
Scan Range X: 1002 nm
Scan Range Y: 1002 nm
Scan Speed: 100 nm/s
Regulator P: 0.08

Regulator I: 0.3 Hz
Amplitude: 40mV
Freg: 32.678632 kHz

Result: 雜訊較多,掃描所得之表面形貌圖並不理想
















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