2010年11月30日 星期二

20101124實驗室日誌

* change the GaSb sample and scanning with the AFM mode:
parameters:
Scan Range X: 1002 nm
Scan Range Y: 1002 nm
Scan Speed: 100 nm/s Regulator P: 0.003
Regulator I: 12 Hz
Regulator Setpoint: 2.5


















* Result:外在環境震動與雜訊,掃描圖形並不理想。

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